인버터, PCS, UPS에서 발생하는 **서지(Surge)**는 디지털 시스템에 치명적인 영향을 미칠 수 있습니다.

서지의 주요 영향

• 전자 회로 손상: 서지는 고전압 또는 고전류가 순간적으로 디지털 회로나 마이크로프로세서, IC 등의 미세 전자에 유입되어, 소자가 열화되거나 영구적인 손상을 발생시킬 수 있습니다.

• 데이터 손실 및 시스템 오작동: 일시적인 서지는 데이터 손상, 기록 오류, 통신 장애, 예기치 않은 시스템 재시작 또는 다운타임을 유발해 중요한 정보의 소실, PLC·DCS·SCADA 같은 공정 제어기의 오동작 등을 야기할 수 있습니다.

• 내부 회로의 수명 단축: 반복적이거나 작은 서지(누적 서지)는 전자 부품의 절연 파괴와 부품의 노화, SMD나 BGA 패키지 파손, 트랜지스터 및 컨트롤IC 불량 등 장기적으로 회로의 수명을 단축시킬 수 있습니다.

• 화재 리스크 및 추가 비용 발생: 극심한 서지는 회로상의 절연 파괴와 발열을 초래해 화재 위험까지 증가시키며, 생산 장비의 멈춤, 복구 작업, 데이터 복원에 따른 실질적 경영 손실을 유발합니다.

서지 발생 원인 및 경로

• 인버터, PCS, UPS 내부에서 발생하는 스위칭 서지, 부하 전환, 단락, 전원 On/Off 반복, 외부 낙뢰와 같은 다양한 요인이 서지의 원인입니다.

• 내부 발생 서지도 전체의 60~80%로, 시설 내부 장비 운전으로도 주기적으로 유입될 수 있습니다.

결론

인버터, PCS, UPS에서 유입되거나 발생하는 서지는 디지털 시스템의 오작동, 데이터 손실, 회로 손상 또는 시스템 중단 등 심각한 문제를 초래합니다. 이에 따라, 적절한 서지 보호 장치(SPD) 설치가 필수적입니다.